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GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀

簡要描述:GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀是光纖耦合儀器,配備多種標準型號,用于350-1150納米波長范圍的測量。
Green-Wave經(jīng)濟型光纖光譜儀各種型號提供光柵范圍和狹縫分辨率的選擇。采用高速16位數(shù)字化儀的新型改進電子設(shè)備,實現(xiàn)了快速的數(shù)據(jù)采集和400:1的信噪比
堅固耐用——可拆卸的光譜儀組件和控制電子設(shè)備被保護在堅固的金屬外殼內(nèi),適合本科生使用!

  • 產(chǎn)品型號:Green-Wave-UV
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2026-07-16
  • 訪  問  量:94
詳細介紹
品牌StellarNet雜散光<.1% at 435nm;<.05% at 600nm
動態(tài)范圍2000:1 with 6 數(shù)量級信噪比1000:1
價格區(qū)間1萬-3萬光譜范圍紫外
按探測器CCD應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,化工,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合

GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀介紹:

StellarNet Green-Wave是一款高性價比、輕量化的光纖耦合式微型光譜儀,專為可見光至近紅外波段精準檢測設(shè)計,核心測量波長覆蓋350-1150nm,適配常規(guī)光譜分析、教學(xué)實驗、工業(yè)檢測、環(huán)境監(jiān)測等多類場景。該系列搭載8款標準化型號,支持個性化波長范圍定制,可通過選配不同規(guī)格光柵與狹縫,靈活調(diào)整光譜檢測范圍與分辨率,能夠精準匹配不同精度、不同場景的光譜測試需求,是兼顧實用性與經(jīng)濟性的通用型光譜檢測設(shè)備。
設(shè)備搭載全新升級的高速16位數(shù)字化儀電子系統(tǒng),硬件性能大幅優(yōu)化,解決傳統(tǒng)微型光譜儀數(shù)據(jù)采集滯后、信號失真的問題,實現(xiàn)毫秒級高速數(shù)據(jù)采集,檢測效率大幅提升。同時依托優(yōu)化的信號降噪算法與硬件濾波設(shè)計,設(shè)備穩(wěn)定信噪比可達400:1,能夠有效過濾環(huán)境雜光、電路干擾等外界噪聲,保障微弱光譜信號的精準捕捉,大幅提升光譜數(shù)據(jù)的準確性、穩(wěn)定性與重復(fù)性,滿足高精度定量、定性光譜分析需求。在結(jié)構(gòu)設(shè)計與耐用性方面,GREEN-Wave微型光譜儀主打堅固便攜、免維護設(shè)計。整機采用1×3×5英寸緊湊型金屬外殼,重量僅1.5磅,體積小巧、便于攜帶與收納,適配實驗室固定檢測、戶外移動檢測等多種使用場景。設(shè)備核心光學(xué)組件、可拆卸光譜模塊與控制電路均被高強度金屬殼體防護,搭配抗振動模塊化光學(xué)架構(gòu),內(nèi)部無任何活動機械部件,無探測器插拔接口,從根源上避免了震動、磕碰、長期運行帶來的設(shè)備故障與精度偏移,具備抗干擾、抗損耗能力,運維成本極低,操作簡易、性能穩(wěn)定,尤其適配高校本科生教學(xué)實驗、基礎(chǔ)科研實訓(xùn)等高頻、大眾化使用場景。設(shè)備支持多單元串聯(lián)拓展工作模式,單系統(tǒng)最多可串聯(lián)接入8臺GREEN-Wave光譜儀,所有接入設(shè)備可同步啟動、并行運行,互不干擾,能夠同時完成多通道、多波段、多樣品的光譜檢測工作,極大提升批量檢測、多維度同步測試的工作效率,可滿足復(fù)雜實驗研究、工業(yè)多點位同步監(jiān)測等進階使用需求。供電與接口設(shè)計兼顧便捷性與通用性,設(shè)備采用USB 2.0接口直供供電,無需額外外接電源適配器,直接連接電腦、筆記本、工控機等常規(guī)設(shè)備即可完成供電與數(shù)據(jù)傳輸,即插即用、部署便捷。設(shè)備標配標準SMA 905光纖接口作為信號輸入端口,可適配單股光纖線纜、各類檢測探針組件,同時支持定制不同長度光纖線纜,靈活適配不同檢測距離、不同安裝場景的測試需求。除基礎(chǔ)USB通訊外,設(shè)備還可拓展支持WiFi、RS232、SPI、4-20mA、數(shù)字I/O、以太網(wǎng)等多種通訊方式,適配工業(yè)化對接、智能化數(shù)據(jù)傳輸需求。內(nèi)置大容量存儲模塊是該設(shè)備的核心優(yōu)勢之一,出廠預(yù)設(shè)全套標準化校準參數(shù)與設(shè)備運行參數(shù),無需用戶重復(fù)校準,開機即可快速投入檢測工作,大幅降低操作門檻。同時搭載專屬快照存儲功能,搭配高靈敏度2048像素CCD探測器,可瞬時完成全域光譜圖像采集與存儲,完整留存實時光譜數(shù)據(jù),支持瞬時光譜信號捕捉、動態(tài)光譜過程記錄,能夠精準抓取短時、瞬態(tài)光譜變化,適配動態(tài)光源檢測、快速反應(yīng)光譜實驗等特殊場景。整體而言,StellarNet GREEN-Wave微型光譜儀憑借高性價比、高穩(wěn)定性、易拓展、免維護、操作簡便的核心優(yōu)勢,既滿足高校教學(xué)、基礎(chǔ)科研的基礎(chǔ)光譜實驗需求,也可適配工業(yè)光譜檢測、環(huán)境光學(xué)監(jiān)測、光源性能測試、材料光譜分析等常規(guī)商用場景,是一款適配范圍廣、實用性的經(jīng)濟型微型光纖光譜儀。

GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀技術(shù)規(guī)格:

動態(tài)范圍: 2000:1 with 6 數(shù)量級光學(xué)分辨率: 見下表 - to 0.2nm

探測器類型: CCD -2048 像素

功率: < 100 mA via USB port
探測器范圍:350-1150nm信噪比:1000:1
像素尺寸: 14 x 200um積分時間: 1ms to 5s- TEC
衍射光柵: 全息與規(guī)則狹縫選擇: 14, 25, 50, 100, 200um
光柵 g/mm: 300, 600,1200,1800, 2400雜散光: <.1% at 435nm;<.05% at 600nm
光學(xué)平臺: f/4, SymX-Czerny–Turner光纖輸入: SMA905 0.22na single fiber
排序篩選器:綜合與高通尺寸:1x3x5英寸
A/D轉(zhuǎn)換: 16-bit操作系統(tǒng): Windows and Linux (2), Andriod (2), iOS (2)
重量: 14 ounces軟件: SpectraWiz program & apps
界面選項:USB2數(shù)據(jù)傳輸速度:30Hz


標準型號

GREEN-Wave系列光譜儀             2048 像素 CCD/PDA 探測器             狹縫類型決定分辨率
ModelWavelength Range (nm)Grating g/mmSlit-200nm res.Slit-100nm res.Slit-50nm res.Slit-25nm res.Slit-14nm res.
VIS350-11506006.03.21.61.000.80
NIR500-11506006.03.21.61.000.80
NIR2600-100012003.01.60.80.500.40
NIR2b785-115012003.01.60.80.500.40
NIR3550-84018002.21.20.60.350.28
NIR3b680-93518002.21.20.60.350.28
NIR4500-70024001.50.80.40.250.20
NIR4b600-80024001.50.80.40.25

0.20






















綠波采樣光譜

GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀  GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀

綠波可見光譜儀                                                                                                                綠波可見光譜儀

顏色反射率與CIELAB色彩測量                                              太陽光譜儀,波長350-1150納米,絕對強度為W/m^2,中午12:00,佛羅里達州坦帕

GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀   GREEN-Wave-UV經(jīng)濟型光纖光譜儀

SL2汞+氬氣體發(fā)射的綠波光譜                                                                綠波近紅外光譜儀
                                                                                                                           500-1150納米
                                                                                                                           薄膜透射測量













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